天星涡流测厚仪ED400用于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝材料、铝零件表面的阳极氧化膜或涂层厚度， 以及其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度，测量塑料薄膜及纸张的厚度。

采用电涡流原理，当探头与试样接触时，探头线圈产生的高频电磁场会在基体金属表面感应出涡电流，此涡电流产生的附加电磁场会改变探头线圈参数， 而探头线圈参数改变量的大小则决定与涂层厚度相关的探头到基体之间的距离。涡流测厚仪ED400在校正之后通过对探头线圈参数改变量的测量，经过计算机处理，就可得到覆盖层的厚度值。

一、按键说明：

电源—电源开关键 。用于开启或关闭电源。

统计—统计键。用于顺序读取一组测量数据的平均值、最大值、最小值、标准偏差和测量次数。

清除—删除键。 用于删除当前测量值或一个校正步骤。

校正—校正键 。用于校正仪器。

“ "—下调键 。在校正状态时，用于将显示值调低。

" "—上调键。在校正状态时，用于将显示值调高，组合键一两个按键配合使用可得到新功能，如下表：

注：组合键的使用方法，按住组合键松开。仪器显示"-一 " 之后显示 "O" 或 "00" , 功能设定完成。

按电源开关键，接通电源，仪器开始执行自检程序，显示所有符号后发出一声鸣音，显示 " O" 或 " O. O" 。仪器进入测量状态，此时可直接进行测量操作。

二、操作步骤：

1、测量：

手持探头的塑料部分，将探头平稳、垂直的落到清洁、干燥的试件上，仪器鸣叫一声，显示出膜厚值（测量时用力不要过大，以免损伤探头）。抬高探头，重新落下，可完成下一次测量。探头抬高的高度应大于10mm,  持续时间应大于2秒钟。一般每一测量点应测量 5-10次，然后读取统计数据。

2、统计：

按动统计键可依次循环显示以下统计数据：

MEAN—平均值

MAX—最大值

MIN—最小值

S — 标准偏差

N — 测量次数

再次测量时，可直接进入下一组测量数据。

3、删除：

在测量过程中，如果因为探头放置不稳或其它原因，出现了一个明显错误的测量值，可按动删除键将其删除，不计入统计。天星涡流测厚仪ED400在校正状态下，按动一次删除键可删除最后一个测量值，按动两次删除键可删除此校正步骤所有测量值。